低溫/磁場微區光譜測試系統解決方案。它支持最高達12 T磁場，低至2.8 K環境下的微區光學測試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓撲磁結構表征，磁疇掃描成像

產品型號：MAPS-LTMS系列

更新時間：2026-05-18

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低溫/磁場微區光譜測試系統

我們的核心研發成員具有十余年的低溫，強磁場，光譜，自動化控制與采集系統開發經驗。我們將于2024年推出磁場下的微區光學測試解決方案。它支持最高達12 T磁場，低至2.8 K環境下的微區光學測試。包括熒光，熒光壽命，反射光譜，拉曼光譜，偏振分辨二次諧波，光電流，磁光克爾與反射磁圓二色。主要應用于磁性二維材料或磁性薄膜材料與器件的磁性表征，居里溫度表征，表面拓撲磁結構表征，磁疇掃描成像。

與電學測試相比，磁光測試具有微米級的空間分辨能力，因此適用于需要高空間分辨的應用，例如二維材料不同區域的磁性表征與對比，磁疇掃描成像。

此外，由于其無接觸非損傷的特性，測量過程簡潔高效且不干擾樣品本身的物理特性。因此磁光測試甚至能夠在樣品進行多工序制備的每一步過程中進行表征，而不干擾樣品的制備流程。例如在制備多層異質結時，逐步堆疊上層材料，分別測試每一層堆疊之后的樣品性質變化。

由于光學手段不依賴于電流，因此，它能輔助電學實驗獲得更準確的實驗結果。例如在電流導致的某些物理特性測試中，采用霍爾方法將不可避免的給樣品施加電流。而光學手段則能夠將測試和電流兩個量分離，準確的得到不同電流下樣品的磁性特征。

無需制備電極，給某些空氣或應力敏感的樣品提供了一種更便捷的測試手段。結合眾韋光電的光學密封轉移樣品盒，能夠實現從手套箱至磁體中測試的全流程樣品的氣氛保護。

我們為螺線管式和劈裂式這兩種類型超導磁體分別設計了微區磁光測試解決方案：

磁體與低溫分體式，緊湊型超導磁體+光學低溫臺