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產品簡介
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產品概述
SuperSPM-C高性能自感知探針原子力顯微鏡
儀器功能及特點：
0.8NA超大光學收集孔徑
測量時無外界光干擾
采用壓電自感知探針
超分辨近場光譜成像
高兼容性
體積小巧，適配任何無限遠光學顯微鏡；
操作簡單，無激光干擾；
光學物鏡最大數值孔徑 0.8
光學物鏡最小工作距離 5.8mm
高分辨率
可升級10nm掃描近場光譜顯微鏡
獲國家重大科研儀器研制項目支持
應用研究領域：
1. 與光學系統聯用開展納米尺度的光譜測量與分析，研究光電信息材料與器件;
2. 無光環境下的納米尺度光電特性研究，包括：光電/發光/半導體材料及器件;
3. 納米及原子尺度物性研究，包括：力梯度-距離曲線、納米力學、針尖增強拉曼;
4. 可實現高空間分辨率的測量分析與成像，包括導電原子力顯微鏡、靜電力顯微鏡、開爾文探針力
顯微鏡、磁力顯微鏡及用戶定制功能;
5. 可實現優于10納米超分辨的光譜測試，滿足新型納米光子器件和先進光電材料的研究需要，可為
探索范德華強關聯材料、鈣鈦礦材料等新材料、新器件的光電性質及人工微結構光子器件提供有
力的研究工具。
高性能自感知探針原子力顯微鏡尺寸圖
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